產品詳情
簡單介紹：
半導體塞貝克系數電阻測試儀是由華測儀器自主研發生產的一款簡單易用和優異的材料表征儀器，可以同時測定樣品在RT至1500°C溫度范圍內的塞貝克系數和電阻率，主要服務于熱電材料研發、新能源器件測試及半導體性能分析等領域。
詳情介紹：
半導體塞貝克系數電阻測試儀
產品特點
01.文本編輯02.重復測量可少的輸入參數
03.實時測量分析
04.測量曲線比較:多達32條曲線
05.曲線扣除
06.曲線放大縮小
07.一階/二階求導
08.多重峰分析
09.樣品溫度多點校正
10.多種方法分析(DSCTG、TMA、DIL等)
11.焓變多點校正
12.熱流Cp測量
13.評估結果保存及導出
14.ASCII數據導入與導出
15.數據生成到MS Excel
16.信號控制測量測序
產品優勢
1.寬溫區覆蓋與高適應性支持 RT 至 1500℃ 超寬溫度范圍，兼容低溫至超 高溫測試，滿足熱電材料、高溫合金等多種材料研究需求；
提供惰性、氧化、還原、真空多氣氛環境，適配材料在不同反應條件下的性能評估。
2.高精度與多功能集成
塞貝克系數電阻測試儀塞貝克系數測量范圍 1～2500μV/K ，準確度達 ±7% ，重復性 ±3% ，準確捕捉微弱熱電效應；
電導率測量范圍覆蓋 0.01～2×10^5S/cm ，準確度 ±5～8% ，支持從絕緣體到導體的全品類材料電阻率分析；
采用靜態直流法（塞貝克系數）與四端法（電阻率），確保測量結果穩定可靠。
3.靈活兼容性與操作便捷性
支持圓柱形（φ6mm）、棱柱形（2~5mm面寬）及圓盤狀（10~25.4mm）多種樣品尺寸，適配復雜形狀試樣；
可調探頭距離（4/6/8mm）與三明治夾持結構，保障樣品接觸穩定性，減少測量誤差；
電極材料可選鎳（-100～500℃）或鉑（-100～1500℃），靈活應對不同溫區與材料特性。
4.高穩定性與長周期測試能力
電源輸出 0～1A ，具備長期穩定性，支持連續高溫實驗與長時間數據采集；
配備K/S/C型熱電偶，實現準確溫度監控與閉環控制。
產品參數
01.溫度范圍:RT~800/1100/1500°002.測量原理：塞貝克系數:靜態直流法;電阻率:四端法
03.氣氛:惰性、氧化、還原、真空
04.樣品支架:三明治結構夾與兩電極之間
05.樣品尺寸(園柱形或棱柱形):2至5mm(面寬)，23mm，中6mm，23mm
06.樣品尺寸(園盤狀):10、12.7、25.4 mm
07.可調探頭距離:4、6、8mm
08.塞貝克系數測量范圍:1~ 2500uV/K準確度±7%;重復性±3%
09.電導率測量范圍:0.01~2*10^5s/cm準確度±5-8%;再現性±3%
10.電源:0~ 1A，具長期穩定性
11.電極材料:鎳(-100至500“C)/鉑(-100至+1500°C)
12.熱電偶:K/S/C型
應用領域
01.熱電材料開發與性能優化測量半導體、方鈷礦、Skutterudite等熱電材料的塞貝克系數與電導率，計算ZT值(熱電優值)評估材料在高溫(如1500°C)或特定環境(真空/還原氣氛)下的熱電轉換效率
02.能源材料與器件研究
鋰離子電池電極材料、因態電解質的電阻率與界面接觸特性分析燃料電池催化劑在氧化/還原氣氛中的導電性能測試
03.電子與功能材料表征
半導體薄膜、導電高分子、金屬氧化物的電輸運特性研究高溫超導材料、陶瓷基復合材料的電阻-溫度關系曲線測定
04.工業材料質量控制與工藝優化
合金、陶瓷、碳材料的熱-電協同性能檢測，指導燒結工藝參數調整高溫涂層、耐腐蝕材料在模擬工況(如真空、惰性氣氛)下的電學行為評估
05.科研與標準化測試
高校及科研院所用于熱電效應、導電機制等基礎理論研究依據國際標準(如ASTM E1225)開展材料熱電性能認證測試
