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北京華測耐漏電起痕測試裝置
日期：2025-06-13 03:10
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摘要：
北京華測耐漏電起痕測試裝置
北京華測耐漏電起痕測試裝置是根據GB 4706.1-2008 GB 4207-2003 GB/T6553-2003 IEC60112 -2003《固體絕緣材料耐電痕化指數和相比電痕化指數的測定方法》，UL 746A、ASTM D 3638-92、DIN 53480等標準規定的模擬試驗項目。
HCLD-200耐漏電起痕試驗儀是在固體絕緣材料表面上，在規定尺寸( 2mm × 5mm )的鉑電極之間，施加某一電壓并定時(30s)定高度( 35mm )滴下規定液滴體積的污染液體(0.1%NH 4 CL)，用以評價固體絕緣材料表面在電場和污染介質聯合作用下的耐受能力，測定其相比電痕...
北京華測耐漏電起痕測試裝置
北京華測耐漏電起痕測試裝置是根據GB 4706.1-2008 GB 4207-2003 GB/T6553-2003 IEC60112 -2003《固體絕緣材料耐電痕化指數和相比電痕化指數的測定方法》，UL 746A、ASTM D 3638-92、DIN 53480等標準規定的模擬試驗項目。
HCLD-200耐漏電起痕試驗儀是在固體絕緣材料表面上，在規定尺寸( 2mm × 5mm )的鉑電極之間，施加某一電壓并定時(30s)定高度( 35mm )滴下規定液滴體積的污染液體(0.1%NH 4 CL)，用以評價固體絕緣材料表面在電場和污染介質聯合作用下的耐受能力，測定其相比電痕化指數(CT1)和耐電痕化指數(PT1)。
HCLD-200北京華測耐漏電起痕測試裝置適用于照明設備、低壓電器、家用電器、機床電器、電機、電動工具、電子儀器、電工儀表、信息技術設備的研究、生產和質檢部門，也適用于絕緣材料、工程塑料、電氣連接件、輔件行業。，也適用于電氣能力驗證計劃與技術研討會中的有關CHEARI-PT003耐電痕化指數測試。
