高溫介電溫譜測試系統運用三電極法設計原理測量。并參考美國 A.S.T.M 標準。重復性與穩定性更好，采用雙屏蔽高頻測試線纜，提高測試參數的準確度，同時抗干擾能力更強。本設備也可應用于產品檢測以及新材料電學性能研究等用途。

搭配Labview系統開發的Huacepro軟件，具備彈性的自定義功能，可進行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測量參數等設置，符合壓電陶瓷與其它新材料測試多樣化的需求。電壓、過電流、超溫等異常情況以保證測試過程的**；資料保存機制，當遇到電腦異常瞬時斷電可將資料保存于控制器中，不丟失試驗數據，設備重新啟動后可恢復原有試驗數據。

目前電網中大量使用變頻器等高頻、高功率設備，將對電網造成諧波干擾。從而在高頻、弱信號測量過程中影響弱信號的采集，華測儀器公司推出的抗干擾模塊以及采用新的參數分析技術,實現了高達120MHz的高頻測量,從而滿足了很多半導體,功能材料和納米器件的測試需求.

儀器優勢：

1、它可以勻速、階梯（升\降溫）、循環沖擊，真空、氣氛等多種的加熱方式。

2、采用***移相觸發技術，完全可實現控制精度波動±0.25°c 以內，溫控精度更高。

3、加熱速度更快、更快，同時它可以提供了材料的更多的測試環境。

設備優勢

1、高速加熱與冷卻方式

高能量的紅外燈和鍍金反射方式允許高速加熱到高溫。同時爐體可配置水冷系統，增設氣體冷卻裝置，可實現快速冷卻。

2、溫度高精度控制

近紅外鍍金聚焦爐和溫度控制器的組合使用，可以準確控制樣品的溫度(遠比普通加溫方式)。此外，冷卻速度和保持在任何溫度下可提供高精度。

3、不同環境下的加熱與冷卻

加熱/冷卻可用真空、氣氛環境、低溫（高純度惰性氣體 靜態或流動），操作簡單，使用石英玻璃制成。紅外線可傳送到加熱/冷卻室。

設備測量參數

溫度范圍： RT-800 (*高1650)°C

樣品尺寸：φ＜25mm，d＜4mm

控溫精度：±0.25°C

電極材料：鉑金

升溫斜率：10°C/min（可設定）

夾具輔助材料：99氧化鋁陶瓷

測試頻率 : 10Hz~120MHz

絕緣材料：99氧化鋁陶瓷

加熱方式：近紅外加熱

測試功能：介電溫譜、頻譜

冷卻方式：水冷

數據傳輸：4個USB接口

輸入電壓：110~220V

設備尺寸：600x500x350mm

ε介電常數、（ε'、ε''介電常數實部與虛部）、C電容、(C’、C''電容實部與虛部、D損耗、R電阻、(R'、R''電阻實部與虛部）、Z、（Z'、Z''阻抗實部與虛部）、

Y導納、Y’、Y''（導納實部與虛部）、X電抗、Q品質因數、cole-cole圖譜、機電耦合系數Kp、等一系列測量參數及介電溫譜與頻譜等測試功能。